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来因科技树木年轮分析仪IN-NL，本产品集图像采集、图像处理、测量路径设置、年轮及早晚材边界识别、人工交互校核、宽度统计与结果导出等功能于一体。长度自动标定与单位换算：支持读取扫描图像DPI信息，结合图像XY双向像素尺寸自动反推修正，实现像素（px）与毫米（mm）自动换算。云数据传输：支持将分析结果上传至配置的云平台，便于集中保存与管理实验数据。
来因科技年轮图像分析仪IN-NL，本产品由平板扫描仪与配套年轮分析软件组成，适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。多维检测参数与边界自动划分：支持自动识别年轮边界，统计有效年轮数，测量逐轮年轮宽度、早材宽度和晚材宽度；计算逐轮早材比例及总体早晚材宽度比。支持区分轮内“早材→晚材”过渡边界与相邻年轮间“晚材→早材”边界，并可测算树盘截面周长与总面积。
来因科技年轮图像分析系统IN-NL，适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。数理统计与智能评价：对年轮宽度、早材宽度和晚材宽度进行描述性统计，计算平均值、最大值、最小值、中位数、标准差、变异系数及四分位数；基于分析数据及软件内置评价规则，输出木材质量、年轮一致性、早晚材比例及生长趋势的评价结果，作为辅助分析参考。云数据传输：支持将分析结果上传至配置的云平台，便于集中保存与管理实验数据。
来因科技年轮分析测量系统IN-NL，本产品集图像采集、图像处理、测量路径设置、年轮及早晚材边界识别、人工交互校核、宽度统计与结果导出等功能于一体。分析模式与批量分析：提供手动分析、自动分析、批量分析及树芯样本模式。自动与批量模式按对应年轮轮次计算宽度平均值；批量分析支持按树种调用相应的二值化参数，对指定文件夹内的样本图像进行一键处理。
来因科技树木年轮分析测量仪IN-NL，本产品由平板扫描仪与配套年轮分析软件组成，适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。测量路径设置与边界交互修正：支持单段、多段测量路径设置，以及 1～512 条取样路径批量添加，可通过双击调整路径取样宽度。支持在灰度曲线上拖动边界交点，或在样本图像中增加、删除分界线，以修正误检、漏检及边界位置偏差；修正后测量结果实时更新。
来因科技年轮分析系统IN-NL，适用于树木横截面树盘及生长锥获取的树芯样本。图像观察与边界校核：支持图像缩放、平移、旋转及局部区域放大观察，结合测量路径灰度曲线核对边界位置，便于观察树盘整体年轮走向，并复核局部密集年轮及纹理不清晰区域。长度自动标定与单位换算：支持读取扫描图像DPI信息，结合图像XY双向像素尺寸自动反推修正，实现像素（px）与毫米（mm）自动换算。
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