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来因科技国产叶绿素荧光成像仪 叶绿素荧光成像分析仪IN-Leaf200涵盖三种核心测量模式：OJIP快速荧光动力学测量、PAM调制荧光测量以及RLC快速光响应曲线测量，能够全面评估植物光合系统的活性、光能利用效率、形态结构特征以及对环境胁迫的动态响应。
来因科技叶绿素荧光成像系统 叶绿素荧光成像分析仪IN-Leaf200是一款面向植物光合作用研究的仪器，以高灵敏度CMOS成像单元为核心，配合可精确调控的LED光控模块，能够对植物叶片开展快速、无损的叶绿素荧光检测与成像分析。可广泛应用于植物生理学、生态学、农学与环境科学等领域的科研与教学工作。
来因科技原位根系分析系统|原位根系分析仪IN-RS800多期时序分析：支持多个已保存的时序匹配结果按时间顺序自动汇总，直观展示各区间动态变化及根系从萌发到消亡的完整生命周期链路。历史记录管理：统一记录扫描根系、荧光标记根系、时序匹配和多时序分析四类结果，支持按类型、时间、文件夹筛选，分页、缩略图预览、结果恢复、目录打开及上传状态查看，便于数据追溯与管理。
来因科技微根管原位根系分析系统/根系生长动态监测系统IN-RS800专项指标分析：支持根瘤智能识别及体积占比测算、盒维数与分形拟合评价、根尖段长分布分析，以及分叉角、交叠角与根轴质量的综合评价，为根系生理与生态研究提供多维数据支撑。
来因科技复合根系生长动态监测系统|根系生长监测系统IN-RS800根系参数分析：单次分析即可输出根长、直径、表面积、体积、空间宽深比等基础形态参数，并自动解析根系网络的根轴识别、父子层级、拓扑连接、交叠关系及多级根系统计。
来因科技植微根窗根系监测系统|根系生长监测系统IN-RS800根系提取分析：基于人工智能深度学习算法，仅需少量根系与背景样本标注即可引导系统自动识别、精准提取根系区域，大幅减少人工交互工作量。系统自动生成原图、叠加图、掩膜图、根轴层级图及交叠分叉点图等多维图层，完整呈现提取全过程。
来因科技植物原位根系分析仪|原位根系分析仪IN-RS800★荧光根系相机分辨率：1600×1100像素（原始分辨率）；★荧光根系相机最大视野：29*29mm；★特殊指标：根瘤数、根瘤体积占比、盒维数、分形拟合R²、荧光标记根系成像（EGFP、YFP、mCherry）。
来因科技植物根系动态生长监测系统|根系动态生长监测系统IN-RS600特殊指标：根瘤数、根瘤体积占比、盒维数、分形拟合R²；供电方式：可充电24V移动电源；通讯方式：USB3.0接口；单次采集时间：≤180s；根管尺寸：89mm（内径）；根管：标配1m透明预埋探管10根，可定制。
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