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来因科技原位根系分析仪/原位根系分析系统IN-GXY是一款土壤根系原位平面多层次图像监测仪，可获取土壤、根系侧面剖面图像，监测土壤中活体根系的生长状态，可获取高分辨率图像用于分析根系的详细结构。
NDVI测量仪是一款面向农业生产管理、生态环境监测、作物表型分析及精准农事决策的便携式植被光谱检测设备。仪器基于非接触式光谱遥感测量原理，可在不破坏植物组织和冠层结构的前提下，快速采集目标叶片或冠层的光谱反射特征，并实时输出 NDVI 等多项植被生理生态参数。
植物根系分析仪能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。
植物冠层分析仪图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数.
便携式植被覆盖度测量仪支持自动和手动阈值调节；自动区分植被与非植被区域； 测量准确度:≥90%。成像设备储存容量不小于 128G，像素≥2420万像素，可实现自动光学对焦。自动曝光，自动闪光补偿，可光学变焦，支持18-45mm广域焦距，设备安装在移动式三脚架。
来因科技高质量根系图像分析仪 根系分析仪IN-GX03S能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤个数，以客观确定根瘤菌体贡献量。大批量的全自动根系分析，批量保存，可将整体数据汇总后保存在一个表格中，也可保存每一个根系的详细数据。
来因科技高分辨率植物根系分析仪 根系分析仪IN-GX03S可分析测量：根总长；分支频率；根平均直径；根直径中值；最大直径；根总面积；总投影面积；根总体积；根尖计数；分叉计数；交叠计数；根直径等级分布参数；可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数。
来因科技高质量根系扫描仪 根系分析仪IN-GX03S利用高质量图形扫描仪获取高分辨率植物根系彩色图像或黑白图像，该扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。此外，还配备有不同尺寸的专用、高透明度根系放置盘。
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