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植物冠层分析仪原理及注意事项

更新时间:2024-01-11      点击次数:99

  植物冠层分析仪可测量:叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射(PAR)等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。

  操作原理:

  叶面积指数(LAI)与植物冠层吸收的光合有效辐射分量(FPAR)是在生态学与气候学中是重要的生物物理参数。这些参数在生态学及气候学领域中有着广泛的应用。TRAC植物冠层分析仪采用创新技术,在冠层下方沿着横断面测定植物冠层吸收的光合有效辐射分量,然后将之转换为林隙比例分布,从而计算出叶面积指数等其它参数。

  1.任何物质都具有发射、吸收及反射电磁波的特性,这是光谱信息检测的基本原理。通过测量每一波长辐射的吸收、发送或反射,物质的特性就能被确定。在实际应用时,仅需要选择某些特定波段来识别被选定物质的特性。利用窄带过滤器来选择可见光和近红外(NIR) 区电磁波谱的某些波段。此波段区域可以用于量化各种胁迫导致的植物冠层发射率差异。叶片病害的严重性十分有用。近红外区的长波波段可以用于估计植物的生物化学成份。

  2.采用可见/近红外光反射光谱技术和多通道光谱信息扫描技术,可快速测定植被表面参数、植物冠层信息、植物养分信息、土壤养分信息、环境参数、植物病虫害程度等。

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  注意事项:

  1.要注意叶片与传感器的距离;

  植物冠层分析仪是利用传感器来进行测量的,因此测量的过程中,要注意叶片与传感器的距离,因为太近也会导致测量的误差。因此要明确叶片与传感器的距离限制,如果距离无法缩小,可以考虑增加重复次数来解决这个问题。

  2.要避免阳光直射;

  由于直射的阳光会导致测量误差,因此在使用作物冠层分析仪测量的过程中,应该尽量避免直射的阳光,一般来说理想的测量天气为日出日落时或多云的天气,其中遮盖帽设计,也是为了降低由于光线造成的误差,比如从传感器的视野中去除太阳;从视野中去除操作者的影响;天空亮度不均匀;冠层内有明显的空隙;减小对测量样地尺寸的需要;减小了森林内必需的空地尺寸等。

  3.注意斜坡的影响;

  在测量的过程中,有些测量对象是在斜坡上的,因此此时就需要注意了,对于斜坡测量,使用作物冠层分析仪的时候,应该尽量使传感器保持与斜坡相匹配,而不是实际的水平。

  4.注意样地尺寸的影响;

  由于在测量的过程中,要保证传感器的视野范围是冠层高度的3倍,因此这就对样地的尺寸有要求,如果尺寸太小,势必会影响测定结果,但是如果实在是无法解决样地尺寸太小的问题,那么可以采用观察帽的方法或是除第5个环的数据来解决这个问题。